Rasterelektronenmikroskopie
Die Einsatzmöglichkeiten des Rasterelektronenmikroskops, REM in Verbindung mit der energiedispersiven Röntgenmikroanalyse, EDX sind vielfältig. Die hier aufgeführten Anwendungsbereiche stellen nur exemplarisch einige Applikationen vor.
Viele weitere Fragestellungen können mit unseren mikrotexturellen und mikroanalytischen Prüfverfahren geklärt werden.
Unsere Leistungen für Sie
- Röntgenmikroanalyse, EDX
- Elementmappings, Linescans
- Bilderzeugung am REM
- Korngrößenbestimmung, Faserdickenmessung
- Begutachtung von Schadensfällen
Wenn Sie Fragen haben, rufen Sie bitte an, wir beraten Sie gerne.
Die energiedispersive Röntgenmikroanalyse, EDX am Rasterelektronenmikroskop
Energiedispersive Röntgenmikroanalyse, EDX am Rasterelektronenmikroskop dient der qualitativen bis quantitativen Analyse kleinster Probevolumina bis hinunter auf µm3-Größe, wie
- Einschlüsse
- Verunreinigungen
- einzelne Staubpartikel
- Ausblühungen
und zur
- chemischen Charakterisierung unbekannter Materialien
metallische Einschlüsse in Schlacke
Einschlüsse in Stahlblech
Lagerkugeln
Verfärbung auf Keramik
Elementanalyse qualitativ
Die qualitative Röntgenmikroanalyse erfolgt über energiedispersive Elementspektren, hier am Beispiel einer Basaltwolle, bestehend aus den HauptlomponentenNa-Al-Mg-Si-K-Ca-Ti-Fe + O.
Elementanalyse halbquantitativ bis quantitativ
Die Durchführung halbquantitativer bis quantitativer Röntgenmikroanalysen erfolgt idealerweise an Präparaten mit planer und glatter Oberfläche:Ideal sind metallische Werkstücke oder polierte Schliffe von oxidischen Werkstoffen.Die Berechnung der Elementkonzentrationen erfolgt standardlos über die sogenannte ZAF-Korrektur gemäß ISO 22309.
Im Beispiel rechts werden die Ergebnisse eines Laborvergleichs zur Röntgenmikroanalyse dargestellt.
Die vollständige Dokumentation dazu finden Sie hier.
Elementverteilungsbilder über Elementmappings und Linescans
Das Rasterelektronenmikroskop, REM in Verbindung mit einem energiedispersiven Detektorsystem, EDX eignet sich in idealer Weise zur Darstellung von Materialkontrasten, Elementverteilungen über Element-Mappings und Linescans.
Die Durchführung von Elementmappings und Linescans erfolgt idealerweise an Präparaten mit planer und glatter Oberfläche: Besonders geeignet sind metallische Werkstücke oder polierte Schliffe von oxidischen Werkstoffen.
EDX - Linescans
EDX - Elementverteilungsbilder - Element-Mappings
Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme eines Kupfernetzes auf einem Aluminiumteller, welches mit Silberlack aufgeklebt wurde.Bildbreite ca. 1,3 cm.
Als hochauflösendes Bilderzeugungsgerät lässt sich das Rasterelektronenmikroskop in idealer Weise zur Abbildung von Oberflächen und mikroskopischen Strukturen einsetzen. Die Einsatzmöglichkeiten für naturwissenschaftliche, technische und medizinische Fragestellungen sind vielfältig und lassen sich an dieser Stelle nicht vollständig aufzählen. Bilder lassen sich in unterschiedlichen Auflösungen erzeugen und im Verlust-freien TIF-Format oder als JPEG-Datei ausgeben.
Folgende Auflösungen bieten wir an:
- Standardauflösung: 654 x 522 px / Dateigröße ca. 0,35 MB
- niedrige HD-Auflösung: 2576 x 1936 px / Dateigröße ca. 4,8 MB
- mittlere HD-Auflösung: 3232 x 2420 px / Dateigröße ca. 7,5 MB
- hohe HD-Auflösung: 3872 x 2904 px / Dateigröße ca. 10,7 MB
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2 Bilderserien in den 4 aufgeführten Qualitätsstufen haben wir zur Ansicht online gestellt.
Beispielbild hier: Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen von Amphibolasbest (Amosit) neben idiomorphen Quarz-Kristallen,
- ca. 1600-fache Vergrößerung,
- Bildbreite ca. 190 µm
Die Bildergallerien finden Sie hier.
Wo klassische Verfahren wie Lasergranulometrie oder die Siebanalyse nicht einsetzbar sind, können mittels Rasterelektronenmikroskopie
- qualitativ über bildhafte Darstellung
- quantitativ über die Vermessung von Partikeln oder Fasern
geometrische Faktoren wie Korngrößen- und Faserdickenverteilungen oder z.B. der längengewichtete mittlere geometrische Durchmesser, LWGMD, von künstlichen Mineralfasern bestimmt werden.
Wenn Sie Fragen hierzu haben, rufen Sie uns an.
